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用途：
　　可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。

特点：
　　防震性能好、有极好的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品，大容量的工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。

1. 第一标准平面（A面），工作直径D1=Φ146mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
2. 第二标准平面（B面），工作直径D2=Φ140mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
3. 准直系统－－－－－－－－－－－－－－－－－工作直径Φ146mm，焦距 f = 400mm
4. 光源规格－－－－－－－－－－－－－－－－－激光ZN18(He-Ne)
5. 干涉室尺寸－－－－－－－－－－－－－－－－Φ480×380×285mm

选配件一：
　　精密升降工作台（适用GⅠ、GⅡ型）

用途：
主要用于平晶、平行平晶等非镀膜面高精度平面度的测量与检定以及仪器采用钠光或汞光照明时的测量。